Беккер П.  Проектирование надежных электронных схем. Москва., 1977 г.

Беккер П. Проектирование надежных электронных схем. Москва., 1977 г.

Яндекс.Диск:Скачать

Рассматриваются методы расчета надежности электронных схем на ранних этапах проектирования с учетом начального уровня качестна комплектующих элементов и постепенных изменений их параметров во времени. Даются практические рекомендации по повышению надежности реальных электронных схем. Изложение иллюстрируется примерами. Предназначена для инженеров-разработчиков радиоэлектронной аппаратуры и специалистов по надежности.

Глава I. Введение
1.1. Предварительные замечания
1.2. Краткий обзор работ

Глава 2. Некоторые положения теории надежности
2.1. Основные типы отказов
2.2. Вероятность безотказной работы
2.3. Два свойства функции R(t)
2.4. Четыре выражения для-вероятности безотказной работы
2.5. Модели внезапных отказов
2.6. Комбинаторные соображения при анализе надежности
2.7. Показатель надежности системы как функция времени
2.8. Замечание о влиянии ремонта на модель анализа
2.9. Применение теории графов к анализу надежности

Глава 3. Проблема проектирования
3.1. Предмет проектирования
3.2. Предварительное проектирование
3.3. Понятие системы
3.4. Математическая формулировка задачи проектирования

Глава 4. Математическая модель для показателя надежности по отказам вследствие дрейфа характеристик
4.1. Математическая модель для вероятности удовлетворения техническим условиям в начальный момент времени или для показателя надежности по отказам вследствие дрейфа характеристик
4.2. Три фактора, усложняющих вычисление показателя
4.3. Пример влияния статистической зависимости входных переменных

Глава 5. Методы вычисления вероятности безотказной работы систем или схем
5.1. Классификация схем по сложности вычисления вероятности безотказной работы
5.2. Нормальная аппроксимация распределения выходных переменных
5.3. Метод свертки
5.4. Метод прямого отображения
5.5. Метод статистического моделирования Монте-Карло

Глава 6. Основы прогнозирования уровня начального качества продукции и показателя надежности с учетом отказов из-за дрейфа характеристик
6.1. Информация о распределениях параметров элементов в момент выпуска продукции
6.2. Общие рекомендации
6.3. Неопределенность исходных данных

Глава 7. Примеры распределения вероятностей для выходной переменной, полученных способом свертки и статистическим моделированием
7.1. Усилитель на одном транзисторе
7.2. Усилитель на трех транзисторах
7.3. Визуальный анализ гистограмм
7.4. Критерий Колмогорова-Смирнова для сравнения двух выборок
7.5. Критерий Колмогорова — Смирнова для одной выборки

Глава 8. Методы оптимизации
8.1. Постановка задачи оптимизации схемы
8.2. Обзор существующих методов оптимизации
8.3. Замечания о форме поверхности отклика

Глава 9. Примеры, иллюстрирующие предлагаемые методы оптимизации
9.1. Поиск возможного решения
9.2. Максимизация вероятности соответствия схемы установленным требованиям в начальный момент времени
9.3. Общие соображения об оптимизации искомой вероятности

Приложение 1. Примеры схем усилителей и моделей транзисторов
Приложение 2. Распределение вероятностей для нелинейных функций случайной величины
Приложение 3. Входные параметры для примеров из главы 7
Приложение 4. Параметры транзистора и статистические соотношения между ними
Приложение 5. Систематизированная процедура составления вариантов проектируемой системы или схемы минимальной стоимости
Список литературы

Похожие книги: